邹金林

讲师简介

邹金林    资深电子产品可靠性专家。

曾任中国赛宝实验室分析中心高级工程师，首席诊断师、咨询师。

美国EOS/ESDA会员。

长期从事电子元器件失效分析和可靠性技术研究工作。完成大量故障控制和改进项目，涉及航空、航天、电子装备、船舶、核电、汽车、家电、手机、LED照明、智能仪表、工控产品等类型电子产品，在失效机理研究和可靠性控制技术方面有深厚的造诣。

主导和参与多项国家和省部可靠性专业科研课题。发表多篇可靠性技术论文，参与可靠性技术专著的编著，并获取多项可靠性工程方法专利。

咨询及培训服务过的企业：中兴、华为、海尔、格力、美的、奥克斯、三一重工、新开普、许继集团、安图生物、读书郎、华立、广东核电、广州地铁、南方电网、国家电网、中电、中船、各路灯管理所  等。

课程大纲

第一部分  使用方采购环节中电子元器件的有效可靠性控制技术介绍

1 传统元器件技术认定方式

2 元器件的有效可靠性评价技术介绍

3 元器件批次性质量控制技术介绍

 

第二部分  电子元器件及其封装结构

1         元件类

1.1  电阻器

1.2  电容器

1.3  电感器

1.4  继电器

1.5  连接器

1.6  谐振器

2         器件类

2.1 二极管

2.2 三极管

2.3 发光管

2.4 功率器件类

2.5 光耦

2.6 集成电路

3 模块类

3.1 开放式

3.2 密封式

3.3 灌封式

 

第三部分  主流门类元器件的主要失效机理及其可靠性控制技术方法

1 元件类

1.1   轴向薄膜电阻器

1.2   片式薄膜电阻器

1.3   片式多层陶瓷电容器

1.4   铝电解电容器

1.5   塑封继电器

1.6   晶体谐振器/振荡器

1.7   连接器

2         器件类

2.1   二极管

2.2   发光管

2.3   三极管、功率器件、电源器件

2.4   光耦

2.5   集成电路（着眼于共性问题）